Bauteilcharakterisierung

Umfassende Charakterisierung von Materialien, Bauelementen und Komponenten der Leistungselektronik unter dem Einfluss kryogener Temperaturen bis -193°C

Im Rahmen der Forschung zur kryogenen Leistungselektronik charakterisieren wir alle Arten elektronischer Bauelemente bis hinunter zu Temperaturen des flüssigen Stickstoffs (–196°C).

Da praktisch kein kommerziell verfügbares Bauelement für so tiefe Temperaturen vom Hersteller spezifiziert ist, liefern unsere Ergebnisse eine wertvolle Grundlage für jede Entwicklung kryogener Leistungselektronik.

Im Rahmen unserer Arbeiten entwickeln wir die gesamte benötigte Kühl-, Prüfstands- und Messtechnik und führen umfangreiche Messreihen an den zu untersuchenden Bauelementen durch, dazu gehören:

• Leistungshalbleiterbauelemente (Si, GaN)
• Integrierte Schaltungen (z.B. Gate-Treiber)
• Magnetischen Kernmaterialien

 

Publikationen