BA – Entwicklung eines programmierbaren Gate-Treibers

Entwicklung eines programmierbaren Gate-Treibers für automatisierte Messsysteme

Um Kennlinienfelder von MOS-gesteuerten Leistungshalbleitern vollautomatisiert vermessen zu können, wird ein programmierbarer Gate-Treiber benötigt. Der zu entwickelnde Treiber soll zwei frei wählbare Spannungspegel im Bereich von -35 V bis +35 V bereitstellen und kapazitive Lasten mit Spitzenströmen von mindestens 30 A umladen können. Umschaltzeiten ohne Last von unter fünf Nanosekunden sind anzustreben. Der Treiber soll über eine galvanisch isolierte USB-Schnittstelle frei programmierbar sein (EIN und AUS Spannungspegel, Schaltimpuls und evtl. Höhe des Gate-Widerstands). Auf ein sauberes Einschwingverhalten der Ausgangsspannung und einen Schutz des Treibers gegenüber Rückspeisung aus zerstörten Prüflingen ist besonderer Wert zu legen. Der realisierte Treiber ist eingehend zu charakterisieren.

Bearbeiter: Felix Leser

Betreuer: Prof. Dr.-Ing. Martin März

Für Studienfächer: EEI, Mechatronik, Energietechnik

Verantwortlicher: Prof. Dr.-Ing. Martin März