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Lehre

BA – Parasitäre Elemente mehrlagiger Leiterplatten

Untersuchungen zu parasitären Elementen mehrlagiger Leiterplatten

Den Leiterplatten in hochfrequenten Systemen mit größeren Leistungen kommt besondere Bedeutung zu, da die Leiterbahnen häufig in Form von flächigen Geometrien in mehreren Layern ausgebildet werden. Damit verbunden ist eine besondere Ausprägung parasitärer Elemente wie Leitungsinduktivitäten und Kapazitäten. Solche Leiterplatten sind hinsichtlich Berechnung und Messung der Parasiten im Hinblick auf die Parameterermittlung für Simulationsmodelle zu betrachten. Vorschläge für eine Layoutgestaltung mit minimierten Parasiten sind vorzustellen.

Bearbeiter: Falke Stephan

Betreuer: Dr. Frank Grünig (Fraunhofer IISB) – Telefon: 09131-761595; Email: Frank.Gruenig@iisb.fraunhofer.de

Für Studienfächer: EEI

Verantwortlicher: Prof. Dr.-Ing. Martin März