Navigation

MA – Einzeltemperaturüberwachung bei parallel geschalteten Leistungshalbleitern

Einzeltemperaturüberwachung bei parallel geschalteten Leistungshalbleitern durch Einsatz schaltbarer Induktivitäten

Kurzzusammenfassung

Das Bestreben nach immer höheren Leistungsdichten erfordert bei Leistungshalbleitern eine immer präzisere Überwachung der Chip-Temperatur. Die elektrische Temperaturmessung ermöglicht eine Temperaturmessung bei der das Substrat des Leistungshalbleiters als Temperatursensor dient. Dadurch wird eine Temperaturerfassung direkt an der Wärmequelle ermöglicht.

Die Masterarbeit zeigt die Möglichkeiten der elektrischen Temperaturmessung an parallel geschalteten Leistungshalbleitern. Dabei werden mittels Simulationen und einem Hardwareaufbau das Verfahren erläutert und die physikalischen Abhängigkeiten diskutiert.

Abstract

The ambition for higher power densities in semiconductors requires a more accurate monitoring of the chip temperature. The electrical temperature measurement enables a temperature measurement at which the substrate of the semiconductor operates as a temperature sensor. This enables a temperature measurement directly at the temperature source.

The master thesis shows the possibilities of electrical temperature measurement by parallel connected semiconductors. The method is explained by simulations and a hardware structure.

Bearbeiter: Christian Hofmann

Betreuer: Dipl.-Ing. Thomas Eberle, Akademischer Rat; Martin Saliternig

Für Studienfächer: EEI, Mechatronik

Verantwortlicher: Prof. Dr.-Ing. Martin März