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MA – Einzeltemperaturüberwachung bei parallel geschalteten Leistungshalbleitern

Einzeltemperaturüberwachung bei parallel geschalteten Leistungshalbleitern durch Einsatz schaltbarer Induktivitäten

Durch die Messung temperaturabhängiger elektrischer Parameter ist es möglich auf die Chiptemperatur eines Leistungshalbleiters zu schließen. Hierbei dient der Leistungshalbleiter selbst als Temperatursensor. Eine besondere Herausforderung stellt in diesem Zusammenhang die Messung einzelner Chiptemperaturen innerhalb einer Parallelschaltung von Leistungshalbleitern dar.

In vorangegangenen Arbeiten konnte ein Verfahren verifiziert werden, mit dem solch eine Messung möglich ist. Allerdings sind bei diesem Verfahren zusätzliche Induktivitäten erforderlich, welche voll im Lastkreis wirksam sind. Im Rahmen der vorliegenden Masterarbeit soll nun ein optimiertes Messverfahren entwickelt werden, das die Auswirkungen der Induktivitäten auf den Lastkreis minimiert. Basierend auf theoretischen Untersuchungen und Simulationen ist ein Hardwareaufbau zu entwickeln, mit dem das optimierte Messverfahren validiert werden kann. Im Sinne einer anwendungsnahen Betrachtung soll dabei der Hardwareaufbau eine Parallelschaltung aus mindestens drei Leistungshalbleitern umfassen, der Laststrom im zweistelligen Amperebereich liegen und der erforderliche Messstrom 200 mA nicht wesentlich überschreiten.

Mithilfe des Hardwareaufbaus sollen verschiedene Auslegungsvarianten und Messabläufe eingehend untersucht werden. Ziel ist es, systematisch und fundiert die Möglichkeiten und Grenzen des Verfahrens aufzuzeigen und zu dokumentieren.

Bearbeiter: Christian Hofmann

Betreuer: Dipl.-Ing. Thomas Eberle, Akademischer Rat; Martin Saliternig

Für Studienfächer: EEI, Mechatronik

Verantwortlicher: Prof. Dr.-Ing. Martin März